第十一届全国FIB技术及学术交流研讨会

第十一届全国FIB技术及学术交流研讨会

2020.09.28——2020.09.30

陕西 西安   中国西部科技创新港

主办单位：中国电镜学会聚焦离子束（FIB）专业委员会

承办单位：金属材料强度国家重点实验室              西安交通大学材料科学与工程研究院

北京中海远创材料科技有限公司赞助参展了此次会议。在会议中，我公司常温SEM原位纳米压痕仪和高温SEM原位纳米压痕仪得到参会人员的广泛咨询和关注，受到一致好评。我公司的SEM原位纳米压痕仪有常温和高温两种型号。常温SEM原位纳米压痕仪提供高精度XYZ位移，可定位样品进行成像。InView软件附带一套测试方法，涵盖一系列测试协议。可以记录SEM或其他显微镜图像，并与机械测试数据进行同步。创新的FIB-to-Test技术允许样品倾斜90度，无需移除样品即可实现从FIB到压痕测试的无缝过渡。高温SEM原位纳米压痕仪测试系统可在真空环境中对压头和样品分别独立进行加热，并与许多SEM/FIB工作室或独立真空工作室兼容。系统温度可高达800摄氏度，因而可以模拟现场极端温度条件，以获得可靠一致的测试数据。钼支架上的单晶碳化物压头经过优化，可用于高温测试应用，并可提供多种几何形状。