常温SEM原位纳米压痕仪--NanoFlip 纳米压痕仪
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纳米压痕仪 返回<<
常温SEM原位纳米压痕仪--NanoFlip 纳米压痕仪

发布时间: 2019-12-02   |  浏览[ 587 ]次  

 
 

产品描述

常温SEM原位纳米压痕仪——NanoFlip纳米压痕仪提供高精度XYZ位移,可定位样品进行测试,还提供翻转机制,可定位样品进行成像。InView软件附带一套测试方法,涵盖一系列测试协议,并允许用户创建自己的新颖测试方法。InForce50驱动器在真空和常压条件下表现同样出色。InView件可以记录SEM或其他显微镜图像,并与机械测试数据进行同步。创新的FIB-to-Test技术允许样品倾斜90°,无需移除样品即可实现从FIB到压痕测试的无缝过渡。

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主要功能

·        InForce 50驱动器,用于电容位移测量,并配有电磁启动的可互换探头

·        InQuest高速控制器电子设备,具有100kHz数据采集速率和20μs时间常数

·        用于样本定位的XYZ移动系统

·        SEM视频捕获,可以将SEM图像和测试数据进行同步

·        独特的软件集成压头校准系统,可实现快速,准确的压头校准

·        Windows®10兼容的InView控制和数据查看软件以及协助用户设计实验的方法开发功能


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主要应用

·        硬度和模量测量(Oliver-Pharr)

·        连续刚度测量

·        高速材料性质分布图

·        ISO 14577硬度测试

·        聚合物的纳米动态力学分析(DMA)

·        定量刮擦和磨损测试

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工业应用

·        大学、研究实验室和研究所

·        支柱和微球制造

·        MEMS(微机电系统)

·        材料制造(结构压缩/断裂测试)

·        电池和元件制造

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