P-7台阶仪(台式探针式轮廓仪)
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P-7台阶仪(台式探针式轮廓仪)

发布时间: 2021-04-13   |  浏览[ 1282 ]次  

 
 

产品描述

P-7台式探针式轮廓仪支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量其扫描可达150mm而无需图像拼接。作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。


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主要功能

·        台阶高度:几纳米至1000μm

·        微力恒力控制:0.0350mg

·        样品全直径扫描,无需图像拼接

·        视频:500万像素高分辨率彩色摄像机

·        圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差

·        软件:简单易用的软件界面

·        生产能力:通过测序,模式识别和SECS/GEM实现全自动化

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主要应用

·        台阶高度:2D3D台阶高度

·        纹理:2D3D粗糙度和波纹度

·        形状:2D3D翘曲和形状

·        应力:2D3D薄膜应力

·        缺陷复检:2D3D缺陷表面形貌

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工业应用

·        大学、研究实验室和研究所

·        半导体和化合物半导体

·        LED:发光二极管

·        太阳能

·        MEMS:微机电系统

·        数据存储

·        汽车

·        医疗设备

·        更多信息,请与我们联系以满足您的要求

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